Charakteryzacja defektów paramagnetycznych w zwązkach półprzewodnikowych typu A B metodą ESR [Electron Soin Resonance].

Autor:	PALCZEWSKA MARIA
Miejsce:	Warszawa :
Wydany przez :	ITME,
w roku:	1995.
Opis fizyczny:	54 : 24 cm.
Seria:	((PRACE Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych ; Z.45))

Uwagi:	Bibliogr.,soderż.,summ ISSN 0209-0066
UKD:	621.315.5:548

Egzemplarz
miejsce	numer inwentarzowy	sygnatura	status	data zwrotu	ostatnia akcja w systemie	akcje
BG	Nc.9334	Nc.9126	Tylko na miejscu		25/09/2007	- Na miejscu

Rekord: