BG US  START  ZAAWANSOWANE SZUKANIE  ZALOGUJ SIĘ  SCHOWEK
KATALOG GŁÓWNY
Kontrast

Analiza defektów w cienkich, polikrystalicznych warstwach diamentowych otrzymywanych metodami CVD /

Fabisiak, Kazimierz (1951- ).
Kazimierz Fabisiak.
Toruń :
Wydaw. UMK,
1994.
102 s. : fot., rys., wykr. ; 24 cm.
(Rozprawy - Uniwersytet Mikołaja Kopernika )
(Rozprawy / Uniwersytet Mikołaja Kopernika )
Bibliogr. s. 94-100.
Streszcz. ang.
83-231-0529-4
548:538.9:679.8:543.4




Krystalografia. Kryształy.

 



defekty.
Diament
Diament -- defekty.
Diament -- warstwy cienkie.
warstwy cienkie.

Rodzaj dokumentu:
Książka


Egzemplarz
miejsce numer inwentarzowy sygnatura status data zwrotu ostatnia akcja w systemie akcje
BG N.17578 Tylko na miejscu 17/04/2007 -
Na miejscu
BG N.17575 Tylko na miejscu 17/04/2007 -
Na miejscu
Rekord:
BG US
Aktualności   |   Godziny otwarcia   |   Kontakt
Copyright © 2005 - 2024 Biblioteka Główna US